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    一(yi)切電(dian)(dian)子(zi)裝置如(ru)洗衣機、冰箱、空調、計算機、儀器(qi)、儀表、汽車(che)電(dian)(dian)子(zi)等都(dou)是(shi)形(xing)(xing)形(xing)(xing)色色的(de)(de)(de),不同功(gong)能的(de)(de)(de)電(dian)(dian)子(zi)電(dian)(dian)路組(zu)成。根據張飛第三大(da)定(ding)(ding)律組(zu)成電(dian)(dian)子(zi)電(dian)(dian)路的(de)(de)(de)基本單(dan)位是(shi)電(dian)(dian)子(zi)元器(qi)件(jian)，這些器(qi)件(jian)都(dou)是(shi)以(yi)硬件(jian)的(de)(de)(de)形(xing)(xing)式存在的(de)(de)(de)，它們(men)都(dou)有各自的(de)(de)(de)電(dian)(dian)氣參(can)數，如(ru)電(dian)(dian)壓電(dian)(dian)流及功(gong)率特性等，因此，元器(qi)件(jian)是(shi)最易損壞(huai)(huai)的(de)(de)(de)物品，但(dan)其故障卻是(shi)有規律可循的(de)(de)(de)。一(yi)般的(de)(de)(de)故障表現為電(dian)(dian)氣參(can)數損壞(huai)(huai)和物理損壞(huai)(huai)兩類，那(nei)么電(dian)(dian)氣參(can)數的(de)(de)(de)損壞(huai)(huai)又包(bao)含電(dian)(dian)壓電(dian)(dian)流超過額定(ding)(ding)值導致的(de)(de)(de)損壞(huai)(huai)，物理的(de)(de)(de)損壞(huai)(huai)包(bao)括斷裂，變形(xing)(xing)，阻值參(can)數變化等表現形(xing)(xing)式。

一、電阻損壞(huai)的特(te)點

    電(dian)(dian)阻(zu)(zu)是電(dian)(dian)器設備中數量最(zui)多的(de)元(yuan)件(jian)，但不是損壞率最(zui)高的(de)元(yuan)件(jian)。電(dian)(dian)阻(zu)(zu)損壞以開路最(zui)常見，阻(zu)(zu)值變大(da)較(jiao)少(shao)見，阻(zu)(zu)值變小十分少(shao)見。常見的(de)有碳膜電(dian)(dian)阻(zu)(zu)、金(jin)屬膜電(dian)(dian)阻(zu)(zu)、線繞(rao)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)和保險電(dian)(dian)阻(zu)(zu)幾種(zhong)。

    前兩種電(dian)阻應用最廣(guang)，其(qi)損壞的(de)特點：一是(shi)低阻值（100Ω以(yi)下）和高(gao)阻值（100kΩ以(yi)上）的(de)損壞率較高(gao)，中間阻值（如(ru)幾(ji)百歐到(dao)幾(ji)十(shi)千歐）的(de)極(ji)少損壞；二是(shi)低阻值電(dian)阻損壞時往往是(shi)燒焦發黑，很容易發現(xian)，而高(gao)阻值電(dian)阻損壞時很少有痕跡。

    線(xian)繞電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)一般用作大電(dian)(dian)流限流，阻(zu)(zu)(zu)(zu)值不大。圓柱(zhu)形線(xian)繞電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)燒壞時(shi)有(you)(you)(you)的(de)會(hui)發(fa)黑或表面爆皮、裂紋(wen)，有(you)(you)(you)的(de)沒有(you)(you)(you)痕跡。水泥電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)是(shi)線(xian)繞電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)的(de)一種(zhong)，燒壞時(shi)可(ke)(ke)能會(hui)斷裂，否則(ze)也沒有(you)(you)(you)可(ke)(ke)見痕跡。保險電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)燒壞時(shi)有(you)(you)(you)的(de)表面會(hui)炸(zha)掉一塊(kuai)皮，有(you)(you)(you)的(de)也沒有(you)(you)(you)什么(me)痕跡，但絕不會(hui)燒焦發(fa)黑。根據(ju)以上特點，在檢(jian)查電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)時(shi)可(ke)(ke)有(you)(you)(you)所側重，快速找出損壞的(de)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)。

二(er)、電解電容(rong)損壞的特點(dian)

電(dian)(dian)解(jie)電(dian)(dian)容在電(dian)(dian)器設(she)備中(zhong)的用量很(hen)大，故障率(lv)很(hen)高。電(dian)(dian)解(jie)電(dian)(dian)容損(sun)壞(huai)有以下幾種表現(xian)：

一(yi)是(shi)完全失去容(rong)量(liang)或容(rong)量(liang)變小；

二是輕微或嚴重漏電；

三(san)是(shi)失去容量(liang)或容量(liang)變小兼有漏(lou)電。

查找損(sun)壞的電解電容方法有：

（1）看：有(you)(you)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)容損壞時會漏(lou)液，電(dian)(dian)(dian)(dian)容下面的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)路板表面甚至電(dian)(dian)(dian)(dian)容外表都(dou)會有(you)(you)一層油漬，這(zhe)種(zhong)電(dian)(dian)(dian)(dian)容絕(jue)對(dui)不能(neng)再(zai)用；有(you)(you)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)容損壞后會鼓(gu)起(qi)，這(zhe)種(zhong)電(dian)(dian)(dian)(dian)容也不能(neng)繼續使用；

（2）摸：開(kai)機(ji)后有些漏電(dian)嚴重(zhong)的電(dian)解電(dian)容會(hui)發熱，用手指觸摸時甚至(zhi)會(hui)燙手，這種(zhong)電(dian)容必須更換；

（3）電(dian)(dian)解電(dian)(dian)容內部有(you)電(dian)(dian)解液，長時間烘(hong)烤(kao)會使(shi)電(dian)(dian)解液變干，導致電(dian)(dian)容量減小，所以(yi)要重點檢查散熱片及大功率元器件附近的電(dian)(dian)容，離其(qi)越(yue)近，損壞的可能性就越(yue)大。

三、二極(ji)管、三極(ji)管等半導體器件(jian)損壞(huai)的特點

三(san)極管的損壞一般是PN結擊穿或(huo)開路，其中以擊穿短路居多。此外還(huan)有兩種損壞表現：

一(yi)(yi)是熱穩定性變差，表現為開機時(shi)正常，工作一(yi)(yi)段(duan)時(shi)間后，發生(sheng)軟擊穿；
另一種是(shi)PN結(jie)的特性變差(cha)，用萬用表R×1k測(ce)，各PN結(jie)均正(zheng)常，但(dan)上(shang)機后不能正(zheng)常工作，如果用R×10或R×1低量程檔測(ce)，就會發現其PN結(jie)正(zheng)向阻值比(bi)正(zheng)常值大。

測量二、三極管可以用(yong)指針萬用(yong)表在(zai)路(lu)測量，較(jiao)準確的方法是：

將萬(wan)用表(biao)置R×10或R×1檔（一(yi)般(ban)用R×10檔，不(bu)明(ming)顯時再(zai)用R×1檔）在路測(ce)二、三極管的(de)PN結(jie)(jie)正(zheng)(zheng)(zheng)、反(fan)向電(dian)(dian)阻(zu)，如果正(zheng)(zheng)(zheng)向電(dian)(dian)阻(zu)不(bu)太大(da)（相對(dui)正(zheng)(zheng)(zheng)常(chang)值），反(fan)向電(dian)(dian)阻(zu)足夠大(da)（相對(dui)正(zheng)(zheng)(zheng)向值），表(biao)明(ming)該PN結(jie)(jie)正(zheng)(zheng)(zheng)常(chang)，反(fan)之(zhi)就(jiu)值得懷疑，需(xu)焊下后(hou)再(zai)測(ce)。這是因為(wei)一(yi)般(ban)電(dian)(dian)路的(de)二、三極管外(wai)圍電(dian)(dian)阻(zu)大(da)多在幾百(bai)、幾千歐以上，用萬(wan)用表(biao)低阻(zu)值檔在路測(ce)量，可以基本忽略外(wai)圍電(dian)(dian)阻(zu)對(dui)PN結(jie)(jie)電(dian)(dian)阻(zu)的(de)影響。

四、集成電路損壞的特點(dian)

集(ji)(ji)成(cheng)電(dian)路內部結構復(fu)雜(za)，功能(neng)很多，任何一部分損(sun)(sun)壞(huai)都無法正(zheng)(zheng)常(chang)工(gong)作。集(ji)(ji)成(cheng)電(dian)路的(de)損(sun)(sun)壞(huai)也有(you)兩(liang)種：徹(che)(che)底損(sun)(sun)壞(huai)、熱穩定性不良(liang)。徹(che)(che)底損(sun)(sun)壞(huai)時(shi)(shi)，可(ke)將其(qi)拆下，與正(zheng)(zheng)常(chang)同型(xing)號集(ji)(ji)成(cheng)電(dian)路對比測其(qi)每一引腳對地的(de)正(zheng)(zheng)、反(fan)向電(dian)阻(zu)，總(zong)能(neng)找到其(qi)中一只(zhi)或(huo)幾(ji)只(zhi)引腳阻(zu)值異常(chang)。對熱穩定性差的(de)，可(ke)以(yi)在設備工(gong)作時(shi)(shi)，用無水酒精冷(leng)卻被懷疑(yi)的(de)集(ji)(ji)成(cheng)電(dian)路，如(ru)果故(gu)障發生(sheng)時(shi)(shi)間推遲(chi)或(huo)不再發生(sheng)故(gu)障，即(ji)可(ke)判(pan)定。通常(chang)只(zhi)能(neng)更換新集(ji)(ji)成(cheng)電(dian)路來(lai)排(pai)除。